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PXI-LCR-Bundles
Die PXI-LCR-Bundles von NI eignen sich ideal für Gleichstrom- und Impedanzmessungen und elektrische Prüfungen von MEMS-Strukturen.
Die PXI-LCR-Bundles von NI enthalten ein PXIe-LCR-Messgerät in einem PXI-Express-basierten Messsystem mit 5 Steckplätzen, das über den Thunderbolt™ USB-C-Anschluss eines Laptops gesteuert wird.
Führen Sie nahtlos Gleichstrom- und Impedanzmessungen mit dem PXIe-4190 von NI durch, dem weltweit ersten LCR-Messgerät und SMU in einem einzigen Instrument. Dieses Instrument bietet Kapazitätsmessungen auf Femto-Farad-Ebene (10-15) und Strommessungen auf Femto-Ampere-Ebene in einem PXI-Formfaktor mit einem Steckplatz. Der PXIe-4190 macht einen zusätzlichen Schalter zum Multiplexen zwischen LCR-Messgerät und SMU überflüssig und ermöglicht so eine vereinfachte Prüfung mit höherem Durchsatz und geringeren Investitionskosten.
Die verbleibenden vier Steckplätze können zur Erweiterung des Systems und zum Handhaben von Änderungen genutzt werden. Fügen Sie Messungen, Kanäle oder neue Analyseroutinen hinzu, ohne ein komplett neues Instrument kaufen zu müssen.
Mit der kostenlosen Software InstrumentStudio von NI lassen sich Instrumente interaktiv steuern und erste Messungen innerhalb weniger Minuten durchführen. Verwenden Sie alternativ die APIs für LabVIEW, C, C# .NET, Python und andere Programmiersprachen.
- Das erste Instrument seiner Art: LCR-Messgerät und SMU in einem Gerät
- Synchronisierung mehrerer Instrumente durch Austausch von Timing- und Triggersignalen über die Busplatine
- Kapazitätsmessungen auf Femto-Farad-Ebene und Strommessungen auf Femto-Ampere-Ebene
- Vereinfachte Prüfung mit höherem Durchsatz und geringeren Investitionskosten.
- Kostenlose No-Code-Anwendungssoftware (InstrumentStudio) für die interaktive Steuerung von Instrumenten
- DC- und Impedanzmessungen
- Automatisierte Testsysteme für CV/IV
- Anwendungen mit integrierter passiver Komponente (IPD)
- Elektrische Tests für MEMS-Strukturen
- Validierung und Prüfung von Mehrschichtkeramikkondensatoren (MLCC)
- Parametrische Tests für Wafer
Ressourcen
PXI LCR Bundles
| Abbildung | Hersteller-Teilenummer | Beschreibung | Verfügbare Menge | Preis | Details anzeigen | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 |  | 867113-01 | LCR METER TEST WORKFLOW | 0 - Sofort | $26,069.66 | Details anzeigen |
|  | 867126-01 | LCR METER TESTING COMPONENTS | 0 - Sofort | $13,577.19 | Details anzeigen |
Associated Parts
| Abbildung | Hersteller-Teilenummer | Beschreibung | Verfügbare Menge | Preis | Details anzeigen | |
|---|---|---|---|---|---|---|
 | 783129-01 | PXIE-4080 HIGH-PERFORMANCE 6 1/2 | 1 - Sofort | $5,270.03 | Details anzeigen | |
|  | 781056-01 | DAQ DEVICE MULTIFUNCT I/O PXIE | 2 - Sofort | $4,947.05 | Details anzeigen |
 | 779647-11 | DAQ DEVICE MULTIFUNCTION I/O PXI | 1 - Sofort | $4,508.00 | Details anzeigen | |
 | 783590-02 | PXIE-5105 PXI OSCILLOSCOPE, 60 M | 1 - Sofort | $15,807.44 | Details anzeigen | |
 | 785114-01 | DAQ DEVICE MULTIFUNCT I/O PXIE | 2 - Sofort | $8,471.50 | Details anzeigen | |
|  | 780587-27 | MULTIPLEXER 64-CHANNEL 300V | 4 - Sofort | $3,183.78 | Details anzeigen |
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