Leistungsstarke passive Allzwecksonden

Amphenol CDI bietet passive Tastköpfe zur Verwendung mit Oszilloskopen

Bild der hochleistungsfähigen, passiven Allzwecksonden von CarlisleIT Amphenol CDI bietet kostengünstige, leistungsstarke, kompakte CATIII-Sonden und CATIV-Sonden in einem UL-zertifizierten Kunststoffgehäuse an, die für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet sind. Bei der passiven Sonde handelt es sich um ein handelsübliches, seriengefertigtes Standardsystem, das für konsistente, wiederholbare und verlässliche Ergebnisse entwickelt wurde. Der passive Tastkopf bietet eine branchenführende Kombination aus hoher Bandbreite und hoher Spannung in einer kostengünstigen, robusten Mehrzweck-Tastkopflösung.

Der P500 ist ein UL-zertifizierter 300-V-CAT-II-Tastkopf, der über den Frequenzbereich von DC bis 500 MHz arbeitet. Der P200 ist ein UL-zertifizierter 250-V-CAT-II-Tastkopf, der über den Frequenzbereich von DC bis 10 MHz oder DC bis 200 MHz arbeitet. Mit seinem miniaturisierten Tastkopf ist er ideal für das Testen von Fine-Pitch-ICs mit geringem Pin-Abstand. Der Tastkopf unterstützt auch die automatische Dämpfungsskalierung über die BNC-Schnittstelle bei Verwendung mit kompatiblen Oszilloskopen. Sowohl P500- als auch P200-Tastköpfe werden mit einem Kit geliefert, das einen BNC-Adapter, eine isolierende Spitzenkappe, einen Greifhaken, eine HF-Massefeder und ein Krokodil-Massekabel enthält.

Merkmale

  • Standard-BNC-Schnittstelle ermöglicht Arbeit mit den meisten modernen Oszilloskopen
  • Ein Dämpfungsverhältnis von 10:1 ermöglicht das Arbeiten mit hohen Spannungen (max. Eingangsspannung von 300 V)
  • Ein Eingangswiderstand von 10 MΩ und eine Kapazität von 11 pF ergeben eine ausgezeichnete Signalintegrität
  • Die Anstiegszeit von <0,9 ns in der P500-Sonde führt zu einer hohen Genauigkeit der Signaldarstellung
  • Zubehör-Kit bietet Flexibilität für versch. Einsatzzwecke
  • 500-MHz-Bandbreite und 1.000-V-Kat-III-Sonden, 600-V-CAT-IV-Sonden; reduzieren die Anzahl der in einer Vielzahl von Anwendungen benötigten Sonden
  • Kleiner, kompakter Tastkopf und -körper für verbesserte Sichtbarkeit kleiner Schaltungselemente mit dichter Geometrie innerhalb des zu prüfenden Bauteils (DUT)
  • Feine Tastspitze gewährleistet korrekten und genauen Testpunktkontakt mit dem DUT
Anwendungen
  • Validierung und Charakterisierung von Halbleitern
  • Internet der Dinge (IoT)
  • Autonome Fahrzeuge
  • Vernetzter Transport
  • Breitbandnetzwerke
  • Rechenzentren
  • Mobile Geräte und Tests
  • HF-Schaltmatrixprüfung
  • Optische Netzwerke
  • Hochgeschwindigkeits-Frequenzbereichsmessungen (VNA)
  • Hochgeschwindigkeits-Zeitbereichsmessungen (BERT)
  • Satellitenkommunikation
  • Medizinische Instrumente
  • Militär-/Luft-/Raumfahrt- und Verteidigungssysteme
  • Industrielle Steuersysteme

High-Performance, General-Purpose Passive Probes

AbbildungHersteller-TeilenummerBeschreibungVerfügbare MengePreisDetails anzeigen
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Aktualisiert: 2025-03-04
Veröffentlicht: 2020-08-10